미세구조분석실 연구장비 소개
* 기기명을 선택하시면 상세정보를 확인하실 수 있습니다.
| No. | 설치장소 | 기기명 | 단축명 | 모델명 | 담당자 | 연락처 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | [81B104]집속이온빔(FIB) | 집속이온빔장치(FIB 3) | FIB 3 | NX2000 | 신연주(Shin Yeonju) |
031-299-6732 |
| 2 | 집속이온빔장치(FIB 2) | FIB 2 | JIB-4601F | 김영미(Kim Youngmi) |
031-299-6729 |
|
| 3 | 집속이온빔장치(FIB 1) | FIB 1 | SMI3050TB | 정효인(Jung Hyoin) |
031-299-6777 |
|
| 4 | [82101]투과전자현미경실Ⅰ |
(준비중) |
Cryo-EM system | Krios | 박상호(Park Sangho) |
031-299-6718 |
| 5 |
(준비중) |
TEM4 | High Performance EDS embedded TEM | |||
| 6 | 구면수차보정투과전자현미경(HRTEM 3) | HRTEM 3 (Cs_corrected/STEM/EDS/EELS) | JEM ARM 200F | 송지호(Song Ji-ho) |
031-299-6734 |
|
| 7 | 분석투과전자현미경(HRTEM 2) | HRTEM 2 (STEM/EDS) | JEM-2100F | 김현정(Kim Hyunjung) |
031-299-6735 |
|
| 8 | 고분해능 투과전자현미경(HRTEM 1) | HRTEM 1 (EDS) | JEM-3010 | 김지혜(Kim Jihye) |
031-299-6738 |
|
| 9 | [81B106]주사전자현미경실 | 초고분해능전계방사주사전자현미경(FESEM 6) | FESEM 6 (EDS/EBSD) | JSM-IT800 | 이혜림(Lee Hyerim) |
031-299-6742 |
| 10 | 초고분해능전계방사주사전자현미경(FESEM 5) | FESEM 5 (EDS/EBSD) | JSM-IT800 | 조현진(Jo Hyeonjin) |
031-299-6749 |
|
| 11 | [81B101]주사전자현미경실Ⅱ,Ⅳ | 열전계주사전자현미경4 (FE-SEM 4) | FESEM 4 (EDS) | JSM-7600F | 김순섭 |
031-299-6776 |
| 12 | [81B103]유틸리티Ⅱ |
전계방사주사전자현미경(FESEM 3) (준비중) |
FESEM 3 (EDS) | JSM7500F | - | - |
| 13 | [81B101]주사전자현미경실Ⅱ,Ⅳ | 열전계방사형주사전자현미경(FESEM 2) | FESEM 2 (EDS) | JSM7000F | 신나라(Shin Nara) |
031-299-6730 |
| 14 | [81B114A]초박미세절편기실 | [슈퍼유저용]주사전자현미경 | [슈퍼유저용]SEM | JSM-6390A | ||
| 15 | [81B104]집속이온빔(FIB) | 나노경도측정기 | Nanoindenter | NanoTest Vantage Platform |