낙차측정기 문의: ☎ 031-299-6764, 홍문규 주임
1. 표면깊이낙차측정기(Stylus Profiler) 원리
표면깊이낙차측정기(Stylus Profiler)는 Stylus Tip(탐침)이 스테이지 위에 있는 샘플에 접촉하여(접촉식 측정법) 시료 위를 일정한 힘으로 수직방향 Scan하여 Stylus Tip의 움직임이 Kinematic Magnectic에 변화를 일으켜 전기장의 변화가 발생하고 이를 두께 및 표면 거칠기로 환산하여 표면 단차 및 3차원 형상을 측정하는 장비이다. 분석 방법은 Single Scan을 이용한 단차 측정, Map Scan을 이용한 3D Mapping이 있다.
< Basic elements of stylus profilometer >
2. 분석종류
| 구분 | 내 용 | 분석 결과 |
|---|---|---|
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단차 측정 |
수직 방향 Single Scan으로 재료 표면에서의 단차를 측정 |
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3D Mapping |
수직 방향 Scan을 50회 이상 중첩하여 3차원 형상을 Mapping 하여 표면의 3차원 형상 및 조도 측정 |
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3. 보유장비 스펙
*장비명을 선택하시면 상세스펙을 확인 할 수 있습니다.
| 장비명 | 단축명 | 모델명 |
|---|---|---|
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Profiler |
Bruker DXT-A |
4. 활용 및 연구분야
| 연구분야 | 내 용 |
|---|---|
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반도체 |
반도체 증착 품질 확인 |
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제조업 |
제품표면의 거칠기 및 품질을 평가하여 제조 공정을 최적화하고 제품의 내구성과 성능을 향상 |
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의료기기 |
의료기기의 표면평가를 통해 생체적합성 및 사용자 안전보장. 특히, 치과장비, 의료용 프로스테틱, 의료 장비 부품 등의 제조 |
| 전자제품제조 | PCB(인쇄회로 기판) 및 다양한 전자부품의 표면검사, 전기적 연결 및 신뢰성 보장 |
| 금속가공 및 도장 | 도장 공정 품질모니터링 및 부식방지 평가 |