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미세구조분석실 연구장비 소개

미세구조분석실 연구장비 종류 및 담당자
No. 설치장소 기기명 단축명 모델명 담당자 연락처
1 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 구면수차보정투과전자현미경(HRTEMⅢ) HRTEMⅢ(Cs_corrected/STEM/EDS/EELS) JEM ARM 200F 송지호(Song Ji-ho) 031-299-6734
2 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 분석투과전자현미경(HRTEMⅡ) HRTEMⅡ(STEM/EDS) JEM-2100F 강은정(Kang Eun-Jung) 031-299-6735
3 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 고분해능 투과전자현미경(HRTEMⅠ) HRTEMⅠ(EDS) JEM-3010 김지혜(Kim Jihye) 031-299-6738
4 미세구조분석실 : 전자현미경동 82101호 고분해능 투과전자현미경(HRTEMⅠ-Ⅰ) HRTEMⅠ-Ⅰ(EDS) JEM-3010 전종철(Jeon Jongchul) 031-299-6715
5 미세구조분석실 : 81B101호 열전계방사형주사전자현미경(FESEMⅡ/EDS/EBSD) FESEMⅡ/EDS/EBSD JSM7000F 이은영(Lee Eunyoung) 031-299-6730
6 미세구조분석실 : 81B106호 전계방사주사전자현미경(FESEMⅢ/EDS) FESEMⅢ/EDS JSM7500F 강채연(Kang Chaeyeon) 031-299-6737
7 미세구조분석실 : 81B101호 열전계주사전자현미경Ⅳ(FE-SEMIV/EDS) FESEMⅣ/EDS JSM-7600F 송유진(Song Yoojin) 031-299-6776
8 미세구조분석실 : 81B106호 주사전자현미경 SEM JSM-6390A 강채연(Kang Chaeyeon) 031-299-6737
9 미세구조분석실 : 81B104호 집속이온빔장치(FIB I) FIB I SMI3050TB 김은지(Kim Eunji) 031-299-6777
10 미세구조분석실 : 81B102호 집속이온빔장치(FIB II) FIB II JIB-4601F 김영미(Kim Youngmi) 031-299-6729
11 미세구조분석실 : 81B102호 집속이온빔장치(FIB Ⅲ) FIB Ⅲ NX2000 신연주(Shin Yeonju) 031-299-6732
12 미세구조분석실 : 81B104호 나노경도측정기 Nanoindenter NanoTest Vantage Platform 김은지(Kim Eunji) 031-299-6777