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미세구조분석실 연구장비 소개

미세구조분석실 연구장비 종류 및 담당자
No. 설치장소 기기명 단축명 모델명 담당자 연락처
1 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) 집속이온빔장치(FIB 1) FIB 1 SMI3050TB 정효인(Jung Hyoin) 031-299-6777
2 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) 집속이온빔장치(FIB 2) FIB 2 JIB-4601F 김영미(Kim Youngmi) 031-299-6729
3 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) 집속이온빔장치(FIB 3) FIB 3 NX2000 신연주(Shin Yeonju) 031-299-6732
4 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ 고분해능 투과전자현미경(HRTEM) HRTEM(EDS) JEM-3010 주재선 031-299-6715
5 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ 고분해능 투과전자현미경(HRTEM 1) HRTEM 1 (EDS) JEM-3010 김지혜(Kim Jihye) 031-299-6738
6 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ 분석투과전자현미경(HRTEM 2) HRTEM 2 (STEM/EDS) JEM-2100F 김은지(Kim Eunji) 031-299-6735
7 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ 구면수차보정투과전자현미경(HRTEM 3) HRTEM 3 (Cs_corrected/STEM/EDS/EELS) JEM ARM 200F 송지호(Song Ji-ho) 031-299-6734
8 미세구조분석실 : [81B114A]초박미세절편기 [슈퍼유저용]주사전자현미경 [슈퍼유저용]SEM JSM-6390A 이은영(Lee Eun Young) 031-299-6737
9 미세구조분석실 : [81B103]유틸리티Ⅱ 전계방사주사전자현미경(FESEM 3) FESEM 3 (EDS) JSM7500F 이은영(Lee Eun Young) 031-299-6737
10 미세구조분석실 : [81B101]주사전자현미경실Ⅱ,Ⅳ 열전계주사전자현미경4 (FE-SEM 4) FESEM 4 (EDS) JSM-7600F 전종철(Jeon Jongchul) 031-299-6776
11 미세구조분석실 : [81B106]주사전자현미경실 초고분해능전계방사주사전자현미경(FESEM 5) FESEM 5 (EDS/EBSD) JSM-IT800 김현정(Kim Hyun Jung) 031-299-6749
12 미세구조분석실 : [81B106]주사전자현미경실 초고분해능전계방사주사전자현미경(FESEM 6) FESEM 6 (EDS/EBSD) JSM-IT800 이혜림(Lee Hyerim) 031-299-6742
13 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) 나노경도측정기 Nanoindenter NanoTest Vantage Platform 신나라(Shin nara) 031-299-6730