미세구조분석실 연구장비 소개
| No. | 설치장소 | 기기명 | 단축명 | 모델명 | 담당자 | 연락처 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) | 집속이온빔장치(FIB 3) | FIB 3 | NX2000 | 신연주(Shin Yeonju) |
031-299-6732
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| 2 | 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) | 집속이온빔장치(FIB 2) | FIB 2 | JIB-4601F | 김영미(Kim Youngmi) |
031-299-6729
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| 3 | 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) | 집속이온빔장치(FIB 1) | FIB 1 | SMI3050TB | 정효인(Jung Hyoin) |
031-299-6777
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| 4 | 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ | 구면수차보정투과전자현미경(HRTEM 3) | HRTEM 3 (Cs_corrected/STEM/EDS/EELS) | JEM ARM 200F | 송지호(Song Ji-ho) |
031-299-6734
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| 5 | 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ | 분석투과전자현미경(HRTEM 2) | HRTEM 2 (STEM/EDS) | JEM-2100F | 김은지(Kim Eunji) |
031-299-6735
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| 6 | 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ | 고분해능 투과전자현미경(HRTEM 1) | HRTEM 1 (EDS) | JEM-3010 | 김지혜(Kim Jihye) |
031-299-6738
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| 7 | 미세구조분석실 : [81B106]주사전자현미경실 | 초고분해능전계방사주사전자현미경(FESEM 6) | FESEM 6 (EDS/EBSD) | JSM-IT800 | 이혜림(Lee Hyerim) |
031-299-6742
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| 8 | 미세구조분석실 : [81B106]주사전자현미경실 | 초고분해능전계방사주사전자현미경(FESEM 5) | FESEM 5 (EDS/EBSD) | JSM-IT800 | 김현정(Kim Hyun Jung) |
031-299-6749
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| 9 | 미세구조분석실 : [81B101]주사전자현미경실Ⅱ,Ⅳ | 열전계주사전자현미경4 (FE-SEM 4) | FESEM 4 (EDS) | JSM-7600F | 전종철(Jeon Jongchul) |
031-299-6776
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| 10 | 미세구조분석실 : [81B103]유틸리티Ⅱ | 전계방사주사전자현미경(FESEM 3) | FESEM 3 (EDS) | JSM7500F | 전종철(Jeon Jongchul) |
031-299-6737
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| 11 | 미세구조분석실 : [81B101]주사전자현미경실Ⅱ,Ⅳ | 열전계방사형주사전자현미경(FESEM 2) | FESEM 2 (EDS) | JSM7000F | 신나라(Shin Nara) |
031-299-6730
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| 12 | 미세구조분석실 : [81B114A]초박미세절편기 | [슈퍼유저용]주사전자현미경 | [슈퍼유저용]SEM | JSM-6390A | 신나라 |
031-299-6776
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| 13 | 미세구조분석실 : [81B104]집속이온빔(FIB) | 나노경도측정기 | Nanoindenter | NanoTest Vantage Platform | 신나라(Shin nara) |
031-299-6730
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| 14 | 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ | 고해상도/고분해능 초저온투과전자현미경 | Cryo-EM system | Krios | - |
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| 15 | 미세구조분석실 : [82101]투과전자현미경실Ⅰ | 고성능 원소성분분석 투과전자현미경 | TEM | High Performance EDS embedded TEM | - |
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